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  • 高溫四探針測(cè)試儀適用于什么材料

    高溫四探針電阻測(cè)試儀是一種專門(mén)用于測(cè)量材料在高溫環(huán)境下電阻率/方阻的精密設(shè)備,其應(yīng)用場(chǎng)景主要集中在需要高溫、高精度電阻測(cè)量的領(lǐng)域。以下是其主要應(yīng)用場(chǎng)景:1.半導(dǎo)體材料與器件半導(dǎo)體晶圓測(cè)試:測(cè)量硅片、碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)等半導(dǎo)體...

    2025-06-25
  • 介電常數(shù)測(cè)試儀的使用(電壓擊穿試驗(yàn)儀)

    介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作特性平板電容器極片尺寸:φ25.4mm極片間距可調(diào)范圍和分辨率:≥10mm,±0.01mm園筒電容器電容量線性:0.33pF/mm±0.05pF長(zhǎng)度可調(diào)范圍和分辨率:≥0~20mm,&p...

    2014-08-26
  • 體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀(電壓擊穿試驗(yàn)儀)售后服務(wù)承諾

    體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀(電壓擊穿試驗(yàn)儀)介電常數(shù)測(cè)試儀產(chǎn)品保修售后服務(wù)承諾:售后服務(wù)及保修承諾:多年來(lái),我公司一直專業(yè)生產(chǎn)研究電氣試驗(yàn)設(shè)備,經(jīng)研究、摸索、總結(jié)出一套完整的產(chǎn)品服務(wù)保障體系,向用戶提供及時(shí)的售前、售中、售后服務(wù)為創(chuàng)造,提高...

    2014-08-22
  • 電壓擊穿試驗(yàn)儀基本參數(shù)(表面電阻率測(cè)試儀)

    BDJC電壓擊穿試驗(yàn)儀電壓擊穿試驗(yàn)儀適用范圍及功能主要適用于固體絕緣材料(如:塑料、橡膠、層壓材料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等絕緣材料及絕緣件)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓的測(cè)試。電壓擊穿試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GB1408-...

    2014-08-21
  • 使用體積電阻率測(cè)試儀注意事項(xiàng)

    測(cè)量接地電阻時(shí),應(yīng)注意哪些事宜:(1)不準(zhǔn)帶電測(cè)試接地裝置的接地電阻值。(2)測(cè)量時(shí),測(cè)量探針應(yīng)選擇土壤較好的地段,如測(cè)量時(shí)發(fā)現(xiàn)表針指示不穩(wěn),可適當(dāng)高速埋入地中的探針深度,或在地中澆入適量的水,如果無(wú)效,說(shuō)明該地下有管道或電纜應(yīng)另選地段。(...

    2014-08-18
  • 電壓擊穿試驗(yàn)儀特點(diǎn)

    電壓擊穿試驗(yàn)儀又叫介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、電氣強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)。下面我們介紹一下電壓擊穿試驗(yàn)儀的產(chǎn)品特點(diǎn)如下:電壓擊穿試驗(yàn)儀概述BDJC-50KV電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制,通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式,完成對(duì)絕緣介質(zhì)材料的工頻電壓擊穿,工頻耐壓試驗(yàn)。適用于對(duì)...

    2014-08-08
  • 電壓擊穿試驗(yàn)儀配置清單

    電壓擊穿試驗(yàn)儀設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)配置試驗(yàn)主機(jī)一臺(tái)試驗(yàn)電極一套放電系統(tǒng)一套控制系統(tǒng)一套數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)一套產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)一份產(chǎn)品合格證一份保修卡一份控制微機(jī)一臺(tái)電源線一條數(shù)據(jù)線一條打印機(jī)一臺(tái)無(wú)線藍(lán)牙發(fā)射器一支無(wú)線藍(lán)牙接收器一支標(biāo)簽:電壓擊穿試驗(yàn)儀介電擊穿強(qiáng)...

    2014-08-04
  • 體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀操作注意事項(xiàng)

    ★高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行,否則有可能造成儀器*損壞或電人。1、應(yīng)在“Rx”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零(主機(jī)開(kāi)機(jī))如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零,但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。...

    2014-07-30
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